дифференциальную нелинейность передаточной характеристики (DNL)
мультипликативную погрешность (full scale error)
оценивать основные типы погрешностей, возникающих при квантовании входного сигнала АЦП :
проверять разрядность испытуемой микросхемы
тестировать характеристики микросхемы АЦП по постоянному току при помощи мультиметра PXI DMM
Предлагаемая система может тестировать весь спектр необходимых параметров АЦП. В том числе:
Система для тестирования микросхем АЦП и ЦАП
Система для тестирования микросхем АЦП и ЦАП - National Instruments Россия, СНГ и Балтия
Комментариев нет:
Отправить комментарий